Using the Hexagonal Layout Style for MOSFETs to Boost the Device Matching in Ionizing Radiation Environments
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Diamond Layout Style for MOSFETs
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Electrical Characterization
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MOSFET
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Total Ionization Dose (TID)
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X-Ray Radiation Effects
Identidade
identificador BrCris
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078b67ea44ca1e65406cbe1851eb9d55
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