Modelos robustos para degradação linear e tempo de falha
Documento
-
- Visão geral
-
- Pesquisas
-
- Identidade
-
- Ver todos
-
Visão geral
membro de
orientado por
produzido em
tipo
data de publicação
Pesquisas
áreas de investigação
palavras-chave
-
Aumento de dados
-
Confiabilidade
-
Degradação
-
MCMC
-
Normal e Log Normal Assimétrica
-
aumento de dados
-
distribuições mistura na scala da SN
-
distribuições mistura na scala da log-SN
-
modelos de degradação
-
tempo ate a falha
Identidade
identificador BrCris
-
c9d6cf846a66d162290db84dbc288386
identificador Capes
identificador Oasisbr
-
UFMG_9fb46b024317346e5bdc7fd1d2c660fd