Estudo do efeito do autoaquecimento em transistores MOSFETS fabricados em estruturas FINFETS e estruturas FINFETS modificadas.
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Pesquisas
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palavras-chave
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Dispositivos de Múltiplas Portas
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Efeito de Autoaquecimento
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Estrutura SOI Modificada
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FinFET
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Tecnologia SOI
Identidade
identificador BrCris
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identificador Capes
identificador Oasisbr
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