Test and Reliability of SRAM Memories Documento

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Visão geral

produzido em

• https://brcris.ibict.br/individual/cour_834bb674-20ce-4195-9d5b-68093aa05ad2 

tipo

• doctoral thesis

autores

• Renan Alves Fonseca

data de publicação

• 2011-01-01

prêmio patrocinado pela

• Université Montpellier 2 - Sciences et Techniques  Organização

Pesquisas

áreas de investigação

• Circuitos Eletrônicos
• Hardware

palavras-chave

• Confiabilidade
• Microeletônica
• SRAM
• Simulação Estatística
• Teste
• Tolherância a falhas

Identidade

identificador BrCris

• c40200cc356f0749ad0bc7d3ee501793