Análise de Camadas Epitaxiais Finas Crescidas Através de CBE Utilizando Curvas de Rocking e Varreduras Renninger.
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Visão geral
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Pesquisas
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palavras-chave
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Camadas Epitaxiais Finas
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Camadas Interfaciais
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Difração Múltipla de Raios-X
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GaInP GaAs
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Semicondutores
Identidade
identificador BrCris
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07ea6ca524beb83ff48265800c69c6f9
identificador Capes
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20021788033003017002P9-Publication
identificador Oasisbr
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UNICAMP-30_793868eefa789d21aaa5950d15386aea