Low-Frequency Noise Characterization of Germanium n-Channel FinFETs
Documento
-
- Visão geral
-
- Pesquisas
-
- Identidade
-
- Informação adicional documento
-
- Outro
-
- Ver todos
-
Visão geral
tipo
data de publicação
publicada em
Pesquisas
áreas de investigação
palavras-chave
-
1/f noise
-
Coulomb scattering coefficient
-
carrier number fluctuations
-
charge carrier mobility
-
oxide trap density
Identidade
identificador BrCris
-
8df6c0c4d93f882787f7d9034feed5c8
Outro