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Investigation of the structural, optical and electrical properties of indium-doped TiO2 thin films grown by Pulsed Laser Deposition technique on low and high index GaAs planes
Documento
doi:10.1016/j.mseb.2020.114578
http://dx.doi.org/10.1016/j.mseb.2020.114578
Visão geral
Identidade
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Visão geral
tipo
journal article
autores
JORLANDIO FRANCISCO FELIX
Sukarno Olavo Ferreira
Yara Galvão Gobato
data de publicação
2020-01-01
publicada em
MATERIALS SCIENCE & ENGINEERING. B, SOLID-STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY
Identidade
identificador BrCris
036b7260dfeb4582424ec3b5bd2d18a8
Informação adicional documento
Página Inicial
114578
Volume
259
Outro
tem linguagem
Inglês