A difração múltipla no estudo de camadas epitaxiais tensionadas
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Difracao Multipla de Raios-X
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Materiais Epitaxiais
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Semicondutores
Identidade
identificador BrCris
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02e381011d07c0df54cdc65787bdd1cf
identificador Oasisbr
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UNICAMP-30_1a36c7723a218c26aa0871b82ed9cf55