Confiabilidade de dispositivos CMOS submetidos à radiação e campo magnético.
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Visão geral
orientado por
produzido em
- https://brcris.ibict.br/individual/cour_affec493-cbbc-4850-963f-0cdb7dac0248
- ELECTRICAL ENGINEERING Programa de Pós-Graduação
tipo
- doctoral thesis
autores
data de publicação
- 2016-01-01
prêmio patrocinado pela
- CENTRO UNIVERSITÀRIO DA FEI Organização
- Fundação Educacional Inaciana Padre Sabóia de Medeiros Organização