Estudo dos efeitos transitórios da radiação sobre a confiabilidade de transistores SOI
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Visão geral
orientado por
produzido em
- https://brcris.ibict.br/individual/cour_d0b71dc8-a475-48dd-a9b1-db91f0aa542e
- ELECTRICAL ENGINEERING Programa de Pós-Graduação
tipo
- master thesis
autores
data de publicação
- 2013-01-01
prêmio patrocinado pela
- CENTRO UNIVERSITÀRIO DA FEI Organização
- Fundação Educacional Inaciana Padre Sabóia de Medeiros Organização