Desenvolvimento de Sistemas e Medida de ruído de alta e baixa frequência em dispositivos semicondutores.
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Visão geral
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data de publicação
Pesquisas
áreas de investigação
palavras-chave
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Dispositivos MOS
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ruido 1/f
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ruido de alta freqüência
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ruido de baixa freqüência
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transistor HBT
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transistor MOS
Identidade
identificador BrCris
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65a1c218f466f2c2763dbc5d27011809
identificador Capes
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20103682433003017021P3-Publication
identificador Oasisbr
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UNICAMP-30_82bb8e3a01ecd7115a23afe9c2a5536d