Estudo das Capacitâncias de Porta em Transistores MOS Sem Junção
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Visão geral
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Pesquisas
áreas de investigação
palavras-chave
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Capacitance
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Electrical Characterization
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FinFET
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Junctionless nanowire transistors
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SOI MOSFET
Identidade
identificador BrCris
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c638d7c7bd5267d28b0a0e6990306928
identificador Capes
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20123133027013002P8-Publication
identificador Oasisbr
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