Validação de protótipo e análise de falhas no teste com feixe de elétrons : um estudo visando a sua automação
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Visão geral
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Pesquisas
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Análise de Falhas de Circuitos Integrados
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Microscópio Eletrônico de Varredura - SEM
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Teste de Sistemas Digitais
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Validação de Protótipos
Identidade
identificador BrCris
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df0038470557ce19183ac6d54bf214c1
identificador Oasisbr
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URGS_4c2e945d075683825f7ed1c35743b163