Experimental Demonstration of Ω-Gate SOI Nanowire MOS Transistors? Mobility Variation Induced by Substrate Bias
Documento
-
- Visão geral
-
- Pesquisas
-
- Identidade
-
- Informação adicional documento
-
- Outro
-
- Ver todos
-
Visão geral
tipo
data de publicação
publicada em
Pesquisas
áreas de investigação
palavras-chave
-
Electrical Characterization
-
Electrical characterization
-
Mobility degradation
-
NANOWIRE-BASED TRANSISTORS
-
Substrate Bias
-
TCAD Tridimensional Simulation
Identidade
identificador BrCris
-
055b6e4cabf2594ba26b6c86456f5f2b
Outro